• Chapitre I : Caractérisation morphologique
    1. Microscopie optique classique
    2. Microscopie électronique à balayage (MEB)
    3. Microscopie électronique à transmission (MET)
    4. Microscopie à effet tunnel (STM)
    5. Microscopie à force atomique (AFM)
    6. Profilomètre
  • Chapitre II : Caractérisation physico-chimique
    1. Spectrométrie des rayons X (XES, EMP)
    2. Spectroscopie d’électrons Auger (AES)
    3. Fluorescence X (XRF)
    4. Spectrométrie des photoélectrons (ESCA, XPS)
    5. Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
    6. Rétrodiffusion Rutherford (RBS)
  • Chapitre III: Caractérisation structurelle
    1. Diffraction par des électrons de basse énergie (LEED)
    2. Diffraction des rayons X (XRD)
    3. Spectroscopie de Rétrodiffusion Rutherford en condition de canalisation RBS
  • Chapitre IV : Caractérisation optique
    1. Ellipsométrie
    2. Spectroscopie infrarouge

    آخر تعديل: السبت، 19 ديسمبر 2020، 2:22 PM