Appareillages et caractérisation: Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)

Zum Hauptinhalt

Deutsch ‎(de)‎

Cours
Accompagnement pédagogique des enseignants
EDUC1'20
Inscription
- Vous êtes enseignant: S'inscrire
- Compte pour les étudiants
Logithèque
Nous-contacter

Website-Administration

Cours
Accompagnement pédagogique des enseignants
EDUC1'20
Inscription
- Vous êtes enseignant: S'inscrire
- Compte pour les étudiants
Logithèque
Nous-contacter

Blöcke verbergen
Volle Breite
Feste Breite

Startseite

Kurse

Faculté des sciences de la technologie

Département d'électronique

Master

Microélectronique

M2

Semestre 3

Appareillages et caractérisation

Microscopie à force atomique (AFM)

Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)

Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)

1.2MB PDF-Dokument

Previous activity
Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)

Next activity
Microscopie à force atomique

Direkt zu:

Navigation überspringen

Navigation

Startseite
- Website
- Kurse
  - Faculté des sciences de la technologie
    - Département d'électrotechnique
    - Département d'électronique
      - Espace doctorants
      - Licence
      - Master
        Microélectronique
        M1
        M2
        Semestre 3
        OPECA
        OCEA
        TPOpt
        simulation des composants
        TP Simulation SC
        RD&CM
        TP.Opto
        Appareillages et caractérisation
        Teilnehmer/innen
        Espace de communication
        Fiche du module
        Table des matières
        Chapitre 0 : prérequis
        Chapitre I : Caractérisation morphologique
        Microscopie optique classique
        Microscopie électronique à balayage (MEB)
        Microscopie électronique à transmission (MET)
        Microscopie à effet tunnel (STM)
        Microscopie à force atomique (AFM)
        Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)
        Chapitre I : Microscopie à force atomique (AFM)
        Microscopie à force atomique
        Microscopie à force atomique
        Profilomètre
        Chapitre II : Caractérisation physico-chimique
        Spectrométrie des rayons X (EDS)
        Spectroscopie d’électrons Auger (AES)
        Spectrométrie des photoélectrons (ESCA, XPS)
        Fluorescence X (XRF)
        Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
        Rétrodiffusion Rutherford (RBS)
        Processus Technologiques en Microelectronique
        Systèmes des Télécommunications
        Réseaux et Télecommunications
        Instrumentation Biomedicale
        Instrumentation
        Automatique et informatique Industrielle
        POO en python
      - En Construction
      - INFMED
      - Capt_Inst
      - M1 AII UE Découverte- Traitement d’images et vision
      - M1 RT et ST Codage et Compression
      - TD Logique C & S
      - Instrumentation médical
      - ELNFII
      - TP Phys. SC I et II
      - Phys.SC.BioMéd
      - F.P.E.
      - TP ELN
    - Département de génie mécanique
    - Département de génie civil
    - Département de génie des transports
    - Département de génie climatique
    - Département de Tronc commun de la science et de la...
  - Facultés de droit
  - Faculté des lettres et des langues
  - Faculté des sciences de la nature et de la vie
  - Faculté des sciences de la terre,de la géographie ...
  - Faculté des sciences exactes
  - Institut de nutrition, de l'alimentation et des te...
  - Institut des sciences vétérinaires
  - Institut des sciences et techniques appliquées
  - Espace TICE
  - Projet E-sciences
  - Divers
  - livres et cours gratuits
  - Espace dédié au programme d'accompagnement des ens...
  - Nous contacter
  - Etablissements universitaires nationaux
  - Formulaires d'inscription
  - Espace de démonstration EDUC20
  - Formation Doctoral 2022-2023

Unsere Datenlöschfristen

Laden Sie die mobile App